N° d'ordre Année

Niveau: Supérieur

• mémoire

N° d'ordre :2063 Année 2003 Thèse préparée au Laboratoire d'Electrotechnique et d'Electronique Industrielle de l'ENSEEIHT Unité Mixte de Recherche du CNRS n°5828 THÈSE présentée pour obtenir le titre de DOCTEUR DE L'INSTITUT NATIONAL POLYTECHNIQUE DE TOULOUSE Spécialité : Génie Electrique par Jérôme VALLON DEA Génie Electrique __________________ Soutenue le 17 Décembre 2003 devant le jury composé de MM. Gérard COQUERY Président et Rapporteur Christian SCHAEFFER Rapporteur Yvon CHERON François FOREST Jean-Jacques HUSELSTEIN Frédéric RICHARDEAU Michel PITON Invité Introduction à l'étude de la fiabilité des cellules de commutation à IGBT sous fortes contraintes.

• vaste problème impliquant l'interaction de contraintes multiples


• igbt ü


• vieillissement ü électronique de puissance ü thermique


• connaissances vastes