![A BIST (built-in self-test) strategy for mixed-signal integrated circuits [Elektronische Ressource] / vorgelegt von Hongzhi, Li](https://img.uscri.be/pth/3bdc82f935746ac63aa2b214ddb74734ee5c8df9)
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A BIST (built-in self-test) strategy for mixed-signal integrated circuits [Elektronische Ressource] / vorgelegt von Hongzhi, Li
Auteur
Lihongzh
Œuvres
(
1
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