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Category Structural analysis of HfO_1tn2 and HfSi_1tn2 ultra-thin films on Si(100) [Elektronische Ressource] : . a photoelectron diffraction study / vorgelegt von Christian Rolf Flüchter
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Structural analysis of HfO_1tn2 and HfSi_1tn2 ultra-thin films on Si(100) [Elektronische Ressource] : . a photoelectron diffraction study / vorgelegt von Christian Rolf Flüchter

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