Spatially resolved spectroscopy on semiconductor nanostructures [Elektronische Ressource] / Johanna Rössler

¨ ¨TECHNISCHE UNIVERSITAT MUNCHENWalter Schottky InstitutZentralinstitut fur¨ Physikalische Grundlagen der HalbleiterelektronikFakult¨at fur¨ PhysikSpatially resolved spectroscopy on semiconductornanostructuresJohanna R¨osslerVollst¨andiger Abdruck der von der Fakult¨at fur¨ Physik der Technischen Universit¨atMunc¨ hen zur Erlangung des akademischen Grades einesDoktors der Naturwissenschaftengenehmigten Dissertation.Vorsitzender: Univ.-Prof. Dr. P. VoglPrufer¨ der Dissertation:1. Univ.-Prof. Dr. G. Abstreiter2. apl. Prof. Dr. M. S. Brandt3. Prof. Dr. A. Fontcuberta i Morral,´Ecole Polytechnique F´ed´erale de Lausanne / SchweizDie Dissertation wurde am 13.01.2009 bei der Technischen Universit¨at Munc¨ heneingereicht und durch die Fakultat¨ fur¨ Physik am 20.02.2009 angenommen.ContentsContents1 Introduction 12 Theoretical and experimental basics of Raman spectroscopy 52.1 The Raman tensor . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 52.2 Lineshape . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 72.3 Symmetry selection rules . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 82.4 Micro-Raman setup . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 82.4.1 Reduction of degrees of freedom . . . . . . . . . . . . . . . . . 82.4.2 Real-time imaging of single nanowires . . . . . . . . . . . . . . 112.4.3 Spectral and spatial resolution . . . . . . . . . . . . . . . . . . 123 Raman spectroscopy of GaAs nanowires 173.