On the test complexity of VLSI systems [Elektronische Ressource] / Hongzhong Wu

SaarlandOnUnivtheWTyest1994ComplexituyersitofofVLSIDissertationSystemsHongzhong:ConTten:ts:Zusamm:enfassung::::::::::::::::::aults:::::::::::::::::::::::::::::::::::::::Jump:::t:::T:::::::::Unate:::Summary:::::::Sensitiv:::::::::::::::::::::::T:::::::lg::::1:Prefacen:::::::::::::67:::::T:::::::T:::::::::::::::::::::::thesis:::::::::::::5.2:::::::Syn:::::::102:::::::::::::::::::::::::f:::::::::::::Jump:::::::::::::::n::::::::::5:1:VLSI:Systems:and:T:ests::::::Complexit:::::::::::::::::::::::::4.2:::::::::::::::::::::::::::::::::::::::::::::::::n:::::::::::::::::::::::::::F1:1.1:X:ategory:and:VLSI:Systems::rees:::::::::::::::::::::::::::::::::::3.1:Diagnosis:::::::::::::::::::::::::3.2:and:::::::::::::::::::::::::::531(1)1.2)F:ault:Mo:dels:and:T:ests::::::::::::57:O:to:):::::::::::::::::::::::::3.