Graphene on various substrates [Elektronische Ressource] / vorgelegt von Ulrich Wurstbauer, geb. Stöberl

Graphene on various substratesDissertation zur Erlangungdes Doktorgrades der Naturwissenschaften(Dr. rer. nat.)der Fakultät Physikder Universität Regensburgvorgelegt vonUlrich Wurstbauer geb. StöberlausVilshofen an der Donau2010Promotionsgesuch eingereicht am: 12.01.2010Die Arbeit wurde angeleitet von: Prof. Dr. Dieter WeissPrüfungsausschuss:Prof. Dr. Milena GrifoniVorsitzender:Erstgutachter: Prof. Dr. Dieter WeissZweitgutachter: Prof. Dr. Franz J. GießiblProf. Dr. Christian SchüllerWeiterer Prüfer:Datum des Promotionskolloquiums: 29. 03. 2010Contents1 Introduction 12 Background 52.1 Structural and electronic properties . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 52.2 Transport properties . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 122.2.1 Minimum Conductivity . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 122.2.2 Quantum Hall effect . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 132.2.3 Interference phenomena . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 173 Experimental methods 213.1 Scanning electron microscope . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 213.2 Atomic force microscope . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 223.3 Imaging ellipsometry . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 253.4 Magnetotransport measurements . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 284 Preparation and detection of graphene 314.1 Fabrication of graphene samples . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .