Ellipsometric characterisation of anisotropic thin organic films [Elektronische Ressource] / vorgelegt von Dana-Maria Rosu

Ellipsometric characterisation of anisotropic thin organic films vorgelegt von MSc Phys. Dana - Maria Rosu aus Hunedoara, Rumänien von der Fakultät II - Mathematik und Naturwissenschaften der Technischen Universität Berlin zur Erlangung des akademischen Grades Doktor der Naturwissenschaften - Dr. rer. nat. – genehmigte Dissertation Promotionsausschuss: Vorsitzender: Prof. Dr. Birgit Kanngießer Berichter: Prof. Dr. Norbert Esser rof. Dr. Christian Thomsen Berichter: Prof. Dr. Georgeta Salvan Tag der wissenschaftlichen Aussprache: 17.06.2010 Berlin 2010 D 83 Parts of this work have been already published in: Journals: Dana M. Rosu, Jason C. Jones, Julia W. P. Hsu, Karen L. Kavanagh, Dimiter Tsankov, Ulrich Schade, Norbert Esser, Karsten Hinrichs, Langmuir 25 (2009) 919: Molecular orientation in octanedithiol and hexadecanethiol monolayers on GaAs and Au measured by infrared spectroscopic ellipsometry. Reports: K. Hinrichs, M. Gensch, G. Dittmar, S. D. Silaghi, D.-M. Rosu, U. Schade, D.R.T. Zahn, S. Kröning, R. Volkmer and N. Esser, BESSY ANNUAL REPORTS, 285 (2006): IR - Synchrotron Mapping Ellipsometry for Characterisation of Biomolecular Films.