Electrical scanning probe microscopy on organic optoelectronic structures [Elektronische Ressource] / vorgelegt von Stefan Weber

Electrical Scanning Probe Microscopyon Organic Optoelectronic StructuresDissertationzur Erlangung des GradesDoktor der Naturwissenschaften\"am Fachbereich Physik, Mathematik und Informatikder Johannes-Gutenberg-Universitat in Mainzvorgelegt vonStefan Webergeboren in TrierMainz, den 26. August 2010\I am a rm believer that without speculationthere is no good and original observation."Charles R. Darwin in a letter to Alfred R. Wallace,December 22nd, 1857ZusammenfassungIm Bereich der organischen Optoelektronik hat die mikro- und nanoskopische Struk-tur der Materialien einen gro en Einuss auf die Leistungsf ahigkeit der Bauteile. Indiesem Bereich gewinnen rasterkraftmikroskopische Methoden (SFM) immer mehran Bedeutung. Neben topographischer Information konnen zahlreiche andere Ober-acheneigenschaften wie elektrische Leitfahigkeit (Leitfahigkeits-Rasterkraftmikros- kopie, C-SFM) oder Oberachenpotentiale (Kelvinsondenmikroskopie, KPFM) mitAuosungen im Bereich von Nanometern gemessen werden.Im Rahmen dieser Arbeit wurden die SFM basierten elektrischen Betriebsmodi ver-wendet um den Zusammenhang zwischen Morphologie und den elektrischen Eigen-schaften in optoelektronischen Hybridstrukturen zu erforschen. Diese Strukturenwurden in der Gruppe von Prof. J. Gutmann (MPI-P Mainz) entwickelt. Konkretwurde ein neuartiges Nanokomposit fur eine integrierte Elektronen-Barriereschichtuntersucht.