Characterization of electrical and optical properties of silicon based materials [Elektronische Ressource] / vorgelegt von Guobin Jia

Characterization of electrical and optical properties of silicon based materials Von der Fakultät für Mathematik, Naturwissenschaften und Informatik der Brandenburgischen Technischen Universität Cottbus zur Erlangung des akademischen Grades Doktor der Naturwissenschaften (Dr. rer. nat.) genehmigte Dissertation vorgelegt von Diplom-Physiker Guobin Jia geboren am 15. Juli 1971 in Lushan (Henan), V. R. China Gutachter: Prof. Dr. rer. nat. habil. Jürgen Reif Gutachter: Prof. Dr. sc. nat. Martin Kittler Gutachter: Privatdoz. Dr. rer. nat. habil. Hartmut S. Leipner Tag der mündlichen Prüfung: 04.12.2009 Index Abstract................................................................................................................................................1 Chapter 1. Advanced silicon technology and materials research ........................................................4 1.1 Photovoltaics .............................................................................................................................5 1.2 Microelectronics ........................................................................................................................9 1.3 Development in opto-electronics.............................................................................................12 Chapter 2.