Automated parametric Rietveld refinement and its application to two dimensional X-ray powder diffraction experiments [Elektronische Ressource] / Rajiv Paneerselvam. Betreuer: Manfred Joswig

Automated parametric Rietveld refinement and its application to two- dimensional X-ray powder diffraction experiments Rajiv Paneerselvam Institut für Geophysik Max-Planck-Institut für Universität Stuttgart Festkörperforschung Stuttgart Dissertation an der Universität Stuttgart Stuttgart, 2011 Automated parametric Rietveld refinement and its application to two- dimensional X-ray powder diffraction experiments Von der Fakultät für Bau- und Umweltingenieurwissenschaften der Universität Stuttgart zur Erlangung der Würde eines Doktor-Ingenieurs (Dr.-Ing.) genehmigte Abhandlung Vorgelegt von Rajiv Paneerselvam geboren in Madurai (Indien) Hauptberichter: Prof. Dr. M. Joswig Mitberichter: Prof. Dr. R.E. Dinnebier Mitberichter: Prof. Dr. H-W. Reinhardt Tag der Einreichung: 01.03.2011 Tag der mündlichen Prüfung: 25.05.2011 Institut für Geophysik, Max-Planck-Institut für Universität Stuttgart Festkörperforschung, Stuttgart 2011 Contents 1 Introduction............................................................