![Fatigue behavior of thin Cu films [Elektronische Ressource] : film thickness and interface effects / Dong Wang](https://img.uscri.be/pth/fc21063ef665faff948e533bb4c11587d4abe093)
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Savoirs
Fatigue behavior of thin Cu films [Elektronische Ressource] : film thickness and interface effects / Dong Wang
Auteur
Wang-Do
Œuvres
(
1
)
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